2005年6月24日初版，11月10日更新
以下の企画は終了いたしました。ご参加いただいた皆様、ならびに講師の先生方に感謝いたします。
平成17年度材料科学基礎講座
材料分析・観測技術の勘どころ
協賛（交渉中含む） 応用物理学会，化学工学会，表面技術協会，高分子学会，精密工学会，電気化学会，
電気学会，電子情報通信学会，日本化学会，日本機械学会，日本金属学会，日本材料学会，日本真空協会，
日本セラミックス協会，日本鉄鋼協会，日本顕微鏡学会，日本表面科学会，日本複合材料学会，日本物理学会，
有機合成化学協会，腐食防食協会，SAS.，日本シミュレーション学会
材料研究・開発においては分析・観測は不可欠な技術であり，これらの進歩は目覚しいものがあります。
本講座は初心者、若手研究者、技術者を対象として、材料分析の基礎から最新の技術まで幅広く学習できるプログラムを組みました。
さらにデモンストレーションもプログラムに組み入れることで，分析の勘どころについてよりわかりやすく説明致します。
多数の参加をおすすめします。
■プログラム■平成17年11月18日（金） 青山学院大学総研ビル11F19会議室
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時 間 |
講演題目 |
講 師 |
| 9:20〜9:30 | 挨拶 | ||
| 総論 | 9:30〜10:30 | 透過電子顕微鏡法の基礎と材料科学への応用 | 幾原雄一 （東京大学） |
| SIMS | 10:30〜11:20 | 飛行時間型二次イオン質量分析法（TOF-SIMS）による生体高分子計測 | 青柳里果 （島根大学） |
| SEM （デモ） |
11:30〜12:30 | 最新の観測・分析機器の得手不得手 | 河合政夫 （島津製作所） |
| XPS | 13:20〜14:20 | X線光電子分光法による材料分析・解析における最新技術 | 鈴木峰晴 （アルバック・ファイ） |
| XRD | 14:20〜15:20 | X線回折の基礎と応用 | 鏡英理奈 （リガク） |
| AFM （デモ） |
15:30〜16:30 | 走査型プローブ顕微鏡の基本原理と最新技術 | 野坂尚克 （エスアイアイ・ナノテクノロジー） |
1. 日 時 平成17年11月18日（金）9:20〜16:30
2. 会 場 青山学院大学 総合研究所ビルディング11F第19会議室
〒150-8366 東京都渋谷区渋谷4-4-25
TEL 03-3409-8111 内2019
・JR山手線・京王井の頭線・東急東横線 渋谷駅下車 徒歩10分
・地下鉄 表参道駅 徒歩5分
3. 定 員 80名（定員に達し次第締切）
4. 参加費 当学会会員 13,000円
協賛学会会員 15,000円
一 般 20,000円
学生・院生 3,000円
なお，私費参加者は申し出下されば10％割引致します。
5. 申込先 〒102-0081 東京都千代田区四番町8-1
(株)裳華房内 日本材料科学会 材料科学基礎講座係
E-mail mssj@shokabo.co.jp
（TEL 03-3262-9166 FAX 03-3262-7257）
6. 問い合せ先 〒180-8633 東京都武蔵野市吉祥寺北町3-3-1
成蹊大学理工学部エレクトロメカニクス学科 齋藤洋司
TEL 0422-37-3725 FAX 0422-37-3871
E-mail yoji@st.seikei.ac.jp
7. 申込締切 平成17年11月4日（金）
8. 申込方法 なるべく電子メールにて、下記の内容を記入し、上記申込み先(mssj@shokabo.co.jp）宛送信してください。FAXでも可です。
(1)「平成17年度 材料科学基礎講座」申込み
(2)氏名（ふりがなを付けて下さい）
(3)勤務先（学生の場合は学校名および学科名・研究室名）
(4)同所在地（〒付記）
(5)電子メールアドレスまたは自宅住所（〒付記）
(6)連絡先（指定なき場合は電子メール宛となります）
(7)申込資格（会員，協賛学会会員，一般，学生・院生の別）
ここから（電子メール経由）でも申し込めます。下のボタンをクリックして、上記内容を書き込み送信してください。（数日以内に返信メールを送信します。ご確認ください）
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9. 払込方法 参加費は当日徴収させていただきます。
