平成13年10月20日更新
本企画は盛況の内に終了しました。講演者ならびに参加者の皆様に感謝申し上げます。

基礎講座風景

平成12年度 材料科学基礎講座
最近の電子顕微鏡による材料評価
−計算機支援による観察と電子ビームによる分析−

■プログラム■平成12年11月16日(木)〜17日(金)青山学院大学総研ビル11F第19会議室

 月 日 時間 講演題目 講師
11月16日 9:20〜9:30 挨拶
TEMの基礎 9:30〜10:40 透過電子顕微鏡の基本機能と材料への応用 上野 武夫
(日立サイエンス
システムズ)
TEMの応用 10:45〜11:55 高分解能電子顕微鏡の基礎と材料研究への応用 市野瀬英喜
(東大・工)
SEMの応用 13:00〜14:10 材料系試料へのSEM応用 小野 昭成
(日本電子データム)
EBSPの応用 14:15〜15:25 EBSP法を用いた材料組織解析の現状 正橋 直哉
(東北大・金研)
高分子観察 15:30〜16:40 高分子材料の電子顕微鏡観察 甲本 忠史
(群馬大)
EELS 11月17日 9:30〜10:40 最新の透過電子顕微鏡 技術とその応用 及川 哲夫
(日本電子)
EPMAの応用 10:45〜11:55 適応範囲を広げる新しいEPMAの応用 丹羽 直昌
(島津製作所)
オージェ 13:00〜14:10 オージェ電子分光法の原理と表面分析への応用 齋藤 洋司
(成蹊大・工)
データベース 14:15〜15:25 材料データベースとその活用 松尾 宗次
(日鉄技術情報センター)

以上